Keithley 大功率半導體器件測試系統(tǒng)2600-PCT-xB大功率半導體器件測試系統(tǒng)可以提供高達10kV或100A的電流、電壓測試范圍，可匹配目前的大功率半導體器件測試對大電壓和大電流的要求，通過增加選件也可實現(xiàn)高壓交流信號測試，大電壓可達3kV。該系統(tǒng)采用模塊化設計，客戶可根據(jù)目前要求選擇性價比合適的測試模塊，同時支持后續(xù)擴展升級。

• 廣泛的測試解決方案，包括測試源表、線纜、夾具、探針臺、軟件及應用案例；
• 電壓測試范圍從uV至10kV，電流測試范圍從fA至100A，可根據(jù)測試要求進行靈活選擇；
• 大功率交流信號測試模塊，可實現(xiàn)大電壓的C-V測試；
• 系統(tǒng)選用的波形記錄器及參數(shù)分析儀均沿襲了吉時利產品的高品質特性，為用戶提供高精度的測試數(shù)據(jù)；
• 該系統(tǒng)可同時兼顧封裝組件和片上晶圓的測試，既節(jié)省了測試時間，又節(jié)約了設備成本。

　　吉時利向您推薦2600-PCT-xB系列測試系統(tǒng)，可提供高達10kV或100A的電壓、電流范圍，不僅可以進行常規(guī)的IV測量，還可增加選件實現(xiàn)大功率的CV測量。該測試系統(tǒng)可以滿足各類大功率半導體器件的測試要求，而且該系統(tǒng)可以兼顧器件封裝后和片上測量，用一套系統(tǒng)就能實現(xiàn)器件不同階段的檢測，既簡化了測試環(huán)節(jié)也節(jié)省了設備成本。

開發(fā)和使用MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要全面的器件級檢定，如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測量。 Keithley參數(shù)波形記錄儀（代替原晶體管圖示儀）支持所有的設備類型和測試參數(shù)。Keithley參數(shù)波形記錄提供高功率同步電流電壓曲線測試（IV曲線測試）、電容電壓曲線測試（CV曲線測試）和高功率脈沖IV曲線測量。

Keithley 大功率半導體器件測試系統(tǒng)特點

• 完善的解決方案，價格實惠且性能優(yōu)異

• 可現(xiàn)場升級和重新配置，將 PCT 轉換成可靠性或晶片分類測試儀

• 可配置功率電平：

• 200V 至 3kV

• 1A 至 100A

• 寬動態(tài)范圍：

• µV 至 3kV

• fA 至 100A

• 全量程容-電壓 (C-V) 能力：

• fF 至 µF

• 支持 2、3 和 4 端器件

• 高達 3kV DC 偏移

• 高性能測試夾具支持一系列軟件包類型

• 探頭測試臺接口支持最常見的探頭類型，包括 HV 同軸三線電纜、SHV 同軸電纜、標準同軸三線電纜等