精密I-V測(cè)試測(cè)量探針臺(tái)系統(tǒng)特點(diǎn) / 應(yīng)用

◆ 滿足I-V/C-V，PIV測(cè)試，光電測(cè)試等.，◆ 從4英寸/6英寸/8英寸可用于8英寸以內(nèi)樣品測(cè)試，同軸絲杠傳動(dòng)結(jié)構(gòu)，線性移動(dòng)，兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動(dòng)，可升級(jí)做射頻，大電流方面的測(cè)試和激光修復(fù)應(yīng)用

精密I-V測(cè)試測(cè)量探針臺(tái)系統(tǒng)：CL系列探針臺(tái)可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動(dòng) ；可升級(jí)做射頻，大電流方面的測(cè)試和激光修復(fù)應(yīng)用，

探針臺(tái)系統(tǒng)剖析 探針臺(tái)系統(tǒng)分為手動(dòng)探針臺(tái)與自動(dòng)探針臺(tái)，以下我們主要分析手動(dòng)探針臺(tái)： 探針臺(tái)用途： 手動(dòng)探針臺(tái)又稱探針測(cè)試臺(tái)主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。適用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析，抽查測(cè)試等用途。 探針臺(tái)系統(tǒng)組成： 探針臺(tái)臺(tái)體+顯微鏡+探針座+探針夾具+探針+測(cè)試源表

寧波工程學(xué)院CL-6現(xiàn)場(chǎng)安裝圖                                                       青島大學(xué)CL-4現(xiàn)場(chǎng)安裝圖